ZW 시리즈 용접 다이오드의 검사 및 포장

테스트 방법 및 검사 규칙

1. 배치별 검사(그룹 A 검사)

제품의 각 배치는 표 1에 따라 검사해야 하며 표 1의 모든 항목은 비파괴적입니다.

표 1 배치당 검사

그룹 검사항목

검사 방법

표준

AQL(Ⅱ)

A1

모습 육안 검사(일반 조명 및 시야 조건에서) 로고가 선명하고 표면 코팅과 도금이 벗겨지거나 손상되지 않았습니다.

1.5

A2a

전기적 특성 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) JB/T 7624-1994 극성 반전: VFM>10USLIRRM>100USL

0.65

A2b

VFM 4.1(25℃) JB/T 7624-1994 요구 사항에 대한 불만

1.0

IRRM 4.4.3 (25℃,170℃) JB/T 7624-1994 요구 사항에 대한 불만
참고: USL은 최대 제한 값입니다.

2. 정기점검(B그룹 및 C그룹검사)

표 2에 따르면 정상 생산 중인 완제품은 매년 B그룹과 C그룹의 최소 1개 배치에 대한 검사를 받아야 하며 (라)로 표시된 검사항목은 파괴시험이다.최초 검사가 부적격인 경우, 추가 샘플링은 부록 표 A.2에 따라 재검사할 수 있지만 한 번만 가능합니다.

표 2 정기 점검(그룹 B)

그룹 검사항목

검사 방법

표준

샘플링 계획
n Ac
B5 온도 순환(D) 후 밀봉
  1. Two-box method,-40℃,170℃ cycle 5회, 각 cycle마다 고온 및 저온에 1시간 노출, 이송시간 (3-4)분.
  2. 가압식 불소 오일 누출 감지 방법.
테스트 후 측정: VFM≤1.1USLIRRM≤2USL새지 않음 6 1
CRRL   각 그룹의 관련 속성인 V를 간략하게 설명합니다.FM그리고 나RRM테스트 전후 값 및 테스트 결론.

3. 식별검사(D조 검사)

제품이 확정되어 생산감정에 투입되면 A, B, C그룹 검사 외에 표 3에 따라 D그룹 검사도 실시하여야 하며, (라)로 표시된 검사항목은 파괴검사이다.완제품의 정상적인 생산은 3년마다 적어도 하나의 그룹 D의 배치를 테스트해야 합니다.

최초 검사 불합격 시 부록 표 A.2에 따라 추가 샘플링 재검사가 가능하나 1회에 한함

표 3 식별 테스트

No

그룹 검사항목

검사 방법

표준

샘플링 계획
n Ac

1

D2 열 사이클 부하 테스트 주기 시간: 5000 테스트 후 측정: VFM≤1.1USL

IRRM≤2USL

6

1

2

D3 충격 또는 진동 100g: 홀드 6ms, 하프 사인 파형, 3개의 상호 수직 축의 두 방향, 각 방향으로 3회, 총 18회.20g: 100~2000Hz, 각 방향에서 2h, 총 6h.

테스트 후 측정: VFM≤1.1USL

IRRM≤2USL

6

1

CRRL

  각 그룹의 관련 속성 데이터인 V를 간략하게 제공합니다.FM, IRRM그리고 나DRM테스트 전후 값 및 테스트 결론.

 

표시 및 포장

1. 마크

1.1 제품에 표기된 마크는 다음과 같습니다.

1.1.1 제품 번호

1.1.2 단자 식별 표시

1.1.3 회사명 또는 상표

1.1.4 검사 로트 식별 코드

1.2 카톤 또는 부착 지침의 로고

1.2.1 제품 모델 및 표준 번호

1.2.2 회사명 및 로고

1.2.3 방습 및 방우 표지판

1.3 패키지

제품 포장 요구 사항은 국내 규정 또는 고객 요구 사항을 준수해야 합니다.

1.4 제품 문서

제품 모델, 구현 표준 번호, 특별한 전기적 성능 요구 사항, 외관 ​​등이 문서에 명시되어야 합니다.

그만큼용접 다이오드Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor에서 생산하는 저항 용접기, 최대 2000Hz 이상의 중, 고주파 용접기에 널리 적용됩니다.매우 낮은 순방향 피크 전압, 매우 낮은 열 저항, 최첨단 제조 기술, 우수한 대체 능력 및 전 세계 사용자를 위한 안정적인 성능을 갖춘 Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor의 용접 다이오드는 중국 전력에서 가장 신뢰할 수 있는 장치 중 하나입니다. 반도체 제품.

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게시 시간: 2023년 6월 14일